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Ausschreibung: Rasterelektronenmikroskope - DE-Ilmenau
Rasterelektronenmikroskope
Instrumente zum Messen elektrischer Größen
Elektromagnetische Anlage
Dokument Nr...: 124072-2019 (ID: 2019031809124886949)
Veröffentlicht: 18.03.2019
*
  DE-Ilmenau: Rasterelektronenmikroskope
   2019/S 54/2019 124072
   Auftragsbekanntmachung
   Lieferauftrag
   Legal Basis:
   Richtlinie 2014/24/EU
   Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
   I.1)Name und Adressen
   TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
   Max-Planck-Ring 14
   Ilmenau
   98693
   Deutschland
   Telefon: +49 3677-691744
   E-Mail: [1]beschaffung@tu-ilmenau.de
   Fax: +49 3677-691931
   NUTS-Code: DEG0F
   Internet-Adresse(n):
   Hauptadresse: [2]http://www.tu-ilmenau.de
   I.2)Informationen zur gemeinsamen Beschaffung
   I.3)Kommunikation
   Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
   vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
   [3]https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908
   Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen elektronisch via:
   [4]https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
   Kontaktstellen
   Im Rahmen der elektronischen Kommunikation ist die Verwendung von
   Instrumenten und Vorrichtungen erforderlich, die nicht allgemein
   verfügbar sind. Ein uneingeschränkter und vollständiger direkter Zugang
   zu diesen Instrumenten und Vorrichtungen ist gebührenfrei möglich
   unter:
   [5]https://www.evergabe-online.de/start.html;jsessionid=BF449CCA7F84740
   07861F7B2846EBCEC.app202?0
   I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
   Einrichtung des öffentlichen Rechts
   I.5)Haupttätigkeit(en)
   Bildung
   Abschnitt II: Gegenstand
   II.1)Umfang der Beschaffung
   II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Rasterelektronenmikroskop mit Tieftemperaturstage zur Bestimmung von
   Materialkenngrößen von Supraleitern und anderen Materialien
   Referenznummer der Bekanntmachung: TU-045/19-201-ZMN
   II.1.2)CPV-Code Hauptteil
   38511100 - FG11
   II.1.3)Art des Auftrags
   Lieferauftrag
   II.1.4)Kurze Beschreibung:
   Lieferung und Inbetriebnahme eines Rasterelektronenmikroskops mit
   Tieftemperatur-Stage zur Bestimmung von Materialkenngrößen von
   Supraleitern, Josephson-Kontakten, memristiven Werkstoffen und weiteren
   Werkstoffen.
   II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
   Wert ohne MwSt.: 665 000.00 EUR
   II.1.6)Angaben zu den Losen
   Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   38341300
   33158100
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DEG0F
   Hauptort der Ausführung:
   TU Ilmenau
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Die Technische Universität Ilmenau beabsichtigt, die technologische
   Ausstattung im Bereich der Forschung zur Mikro- und Nanotechnologie zu
   erweitern. Hierzu ist vorgesehen, ein Rasterelektronenmikroskop zu
   beschaffen, dass Materialuntersuchungen in einem Temperaturbereich von
    6 K bis zu mindestens Raumtemperatur ermöglicht. Es sollen
   physikalische Fragestellungen ortsaufgelöst beantwortet werden. Dabei
   spielen sowohl die Untersuchung und Charakterisierung von einzelnen
   Josephson-Kontakten, von Arrays aus Josephson-Kontakten und
   supraleitenden Mikrowellenschaltungen, von supraleitender
   Tunnelübergangsdetektoren, des Tiefentladungsdurchschlags von
   Halbleitern, von supraleitenden Tunnelübergänge, Variationen der
   Bandlücke und der Josephson-Stromdichte, der Anisotropie der
   Phononenausbreitung in Einkristallen als auch das Defektmapping in
   Einkristallen, das Mapping von in Supraleitern eingefrorenen
   Flussschläuchen, die Verteilung der kritischen Stromdichte und
   kritischen Temperatur in Supraleitern bzw. supraleitenden Schichten
   eine Rolle. Untersuchungsgegenstand sind u. a. dünne Filme aus
   Metallen, Metall-Oxiden und Nitriden für Anwendungen als
   Tunnelbarrieren oder Elektroden in memristiven und kryoelektronischen
   Bauelementen. Dafür sind sowohl in-situ elektrische Messungen als auch
   die Applikation von elektromagnetischen Feldern angedacht.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
   nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
   II.2.6)Geschätzter Wert
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Laufzeit in Monaten: 24
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.9)Angabe zur Beschränkung der Zahl der Bewerber, die zur
   Angebotsabgabe bzw. Teilnahme aufgefordert werden
   Geplante Mindestzahl: 3
   Höchstzahl: 5
   Objektive Kriterien für die Auswahl der begrenzten Zahl von Bewerbern:
   Zur Teilnahme berechtigt sind die maximal fünf Bewerber, die alle fünf
   Mindestanforderungen erfüllen haben und die fünf höchsten gewichteten
   und summierten Wertungen erhalten haben:
   (W1) wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters  Absteigende
   Bewertung der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 10 %;
   (W2) Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in
   Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren  Absteigende Bewertung
   der fünf umsatzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %;
   (W3) Mitarbeiter und deren Qualifikationsstruktur im Bereich R&D 
   Absteigende Bewertung der fünf R&D-stärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 15 %;
   (T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren
   Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit  Absteigende Bewertung
   der 5 referenzstärksten Bewerber (5-1 Pkt.) 25 %;
   (T2) aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im
   Applikationslabor , Absteigende Bewertung der 5 stärksten Bewerber (5-1
   Pkt.) 15 %,
   (T3) nächstgelegener Servicestandort  Absteigende Bewertung der
   Entfernung zum Erfüllungsort (5-1 Pkt.) 10 %.
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: nein
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
   Angaben
   III.1)Teilnahmebedingungen
   III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
   hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
   Auflistung und kurze Beschreibung der Bedingungen:
   Nachweis über die Befähigung zur Berufsausübung durch Abgabe der EEE 
   Teil IV Abschnitt A. (Siehe Abschnitt VI.3 dieser Bekanntmachung 
   zusätzliche Angaben: Link und Erläuterungen zum Dienst zum Ausfüllen
   und Wiederverwenden der EEE). Die Nichterfüllung mindestens eines
   dieser Mindestanforderungen gilt als Ausschlusskriterium.
   III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
   Nachweis über die wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
   durch Abgabe der EEE  Teil IV Abschnitt B. (Siehe Abschnitt VI.3
   dieser Bekanntmachung  zusätzliche Angaben: Link und Erläuterungen zum
   Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE).
   Möglicherweise geforderte Mindeststandards:
   Unterlagen, welche
   (W1) über die wirtschaftliche Gesamtsituation des Bieters;
   (W2) den Umsatz von Systemen zur Rasterelektronenmikroskopie in
   Forschungseinrichtungen in den letzten 3 Jahren sowie;
   (W3) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im
   Bereich R&D für die Rasterelektronenmikroskopie Aussagekräftige
   Auskunft geben.
   III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
    Nachweis über die technische und berufliche Leistungsfähigkeit durch
   Abgabe der EEE  Teil IV Abschnitt Cund D (Hinweis: bezogen auf die
   letzten 3 abgeschlossenen Geschäftsjahre). (Siehe Abschnitt VI.3 dieser
   Bekanntmachung  zusätzliche Angaben: Link und Erläuterungen zum Dienst
   zum Ausfüllen und Wiederverwenden der EEE).
   Möglicherweise geforderte Mindeststandards:
   Mindestanforderung (Ausschlusskriterium):
   (M4) Der Bewerber muss mindestens eine Referenzinstallation eines
   Systems zur Rasterelektronenmikroskopie mit Tieftemperaturstage in
   einer Forschungseinrichtung vorweisen können;
   (M5) Vorhandensein eines eigenen Applikationslabors zur
   Rasterelektronenmikroskopie.
   Bewertungskriterien:
   (T1) Referenzen von derzeit funktionstüchtigen und vergleichbaren
   Leistungen und Geräten in Europa bzw. weltweit;
   (T2) die aktuelle Mitarbeiterzahl und deren Qualifikationsstruktur im
   Applikationslabor sowie;
   (T3) nächstgelegener Servicestandort zum Erfüllungsort.
   III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
   III.2)Bedingungen für den Auftrag
   III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
   III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
   Abschnitt IV: Verfahren
   IV.1)Beschreibung
   IV.1.1)Verfahrensart
   Wettbewerblicher Dialog
   IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
   Beschaffungssystem
   IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder
   Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs
   Abwicklung des Verfahrens in aufeinander folgenden Phasen zwecks
   schrittweiser Verringerung der Zahl der zu erörternden Lösungen bzw. zu
   verhandelnden Angebote
   IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
   IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
   Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
   IV.2)Verwaltungsangaben
   IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
   IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
   Tag: 18/04/2019
   Ortszeit: 13:00
   IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
   Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
   Tag: 13/05/2019
   IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
   eingereicht werden können:
   Deutsch
   IV.2.6)Bindefrist des Angebots
   IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
   Abschnitt VI: Weitere Angaben
   VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
   Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
   VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
   Aufträge werden elektronisch erteilt
   Die elektronische Rechnungsstellung wird akzeptiert
   Die Zahlung erfolgt elektronisch
   VI.3)Zusätzliche Angaben:
   Hinweis zum Ausfüllen der EEE: Dienst zum Ausfüllen und Wiederverwenden
   der EEE unter dem Link: Dazu Ich bin ein Wirtschaftsteilnehmer
   [6]https://ec.europa.eu anklicken und dann die Option eine Antwort
   erstellen" /tools/espd/filter?lang=de. anklicken. Dann kann die EEE
   ausgefüllt und im gleichen Format (xml) sowie als PDFDatei exportiert/
   gespeichert werden. Zum Teilnahmewettbewerb (Erster Teil des
   Vergabeverfahrens): Der Teilnahmewettbewerb dient zur Ermittlung der
   Eignung der Bewerber. Es werden im zweiten Teil des Vergabeverfahrens
   (Angebotsverfahren) nur Bewerber mit festgestellter Eignung zugelassen.
   Wird mindestens eine der Mindestanforderungen nicht erfüllt, liegt
   keine Eignung vor. Entsprechend Abschnitt II 2.9 wird aus den
   geeigneten Bewerbern unter Berücksichtigung der Bewertungsgewichtung
   eine Auswahl von maximal 5 Bewerbern herbeiführen. Zum
   Angebotsverfahren (Zweiter Teil des Vergabeverfahrens): In einer ersten
   Phase werden die ausgewählten maximal 5 Bewerber zur Erstellung
   Lösungskonzeptes und eines ersten verbindlichen Angebots aufgefordert.
   Diese Angebote sind Grundlage der nächsten Phasen mit
   Verhandlungsrunden mit maximal 3 Bietern. Im Bedarfsfall können
   Prozesstests zur Bewertung von Lösungskonzepten vorgesehen werden. In
   diesen Phasen kann nach Bewertung der vorgelegten Lösungskonzepte und
   Testergebnisse eine weitere Reduzierung der Teilnehmerzahl erfolgen.
   Letztlich werden die im Verfahren verbleibenden Bieter final um ein
   Angebot gebeten, bevor die Vergabe mit der Auftragserteilung an den
   Bestbieter abgeschlossen wird. Die Ausschluss- und Bewertungskriterien
   werden mit den jeweiligen Aufforderungen zur Angebotserstellung bzw.
   Prozesstest mitgeteilt.
   VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
   VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
   Vergabekammer beim Thüringer Landesverwaltungsamt
   Weimar Platz 4
   Weimar
   99423
   Deutschland
   Telefon: +49 361-37700
   VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
   VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
   Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
   Entsprechend der Regelungen gemäß § 160 GWB.
   VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
   erteilt
   TU Ilmenau, Dezernat Finanzen, SG Beschaffung
   Max-Planck-Ring 14
   Ilmenau
   98693
   Deutschland
   Telefon: +49 3677-691744
   E-Mail: [7]beschaffung@tu-ilmenau.de
   Fax: +49 3677-691931
   Internet-Adresse: [8]http://www.tu-ilmenau.de
   VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
   13/03/2019
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   1. mailto:beschaffung@tu-ilmenau.de?subject=TED
   2. http://www.tu-ilmenau.de/
   3. https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908
   4. https://www.evergabe-online.de/tenderdetails.html?id=245908
   5. https://www.evergabe-online.de/start.html;jsessionid=BF449CCA7F8474007861F7B2846EBCEC.app202?0
   6. https://ec.europa.eu/
   7. mailto:beschaffung@tu-ilmenau.de?subject=TED
   8. http://www.tu-ilmenau.de/
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